CCPによるクリーニング処理


計算概要  -Computation Summary-

代表的なドライエッチング手法のひとつである、CCP(容量結合プラズマ)エッチングに関する解析事例です。 Particle-PLUSは真空チャンバ内のプラズマ解析を得意としており、高速にエッチング率などのシミュレーションを行うことができます。

▣CCPを用いた基板表面クリーニング

項目・・・


a.モデル概要』

b.『電位

c.『粒子数密度

d.『エネルギー分布

e.『電子流束

f.『Arイオン流束

g.『基板表面のクリーニング

ギャラリー  -gallery-

動画の再生およびダウンロードが可能です。
※ 動画再生はMP4形式の再生に対応したブラウザのみ可能です。

ダウンロード
電子数密度
CCP_dens_e.mp4
MP4動画/オーディオファイル 2.2 MB

 


ダウンロード
Arイオン数密度
CCP_dens_ion.mp4
MP4動画/オーディオファイル 2.2 MB

 


ダウンロード
電位分布
CCP_potential.mp4
MP4動画/オーディオファイル 2.2 MB

 


関連コラム  -column-


株式会社ウェーブフロント 

営業部 

メール:sales@wavefront.co.jp

TEL:045-682-7070